研究設備
主要研究設備(クリックすると詳細説明)
-
300 kV 超高分解能透過電子顕微鏡 (300 kV - HRTEM)
(300 kV High Resolution Transmission Electron Microscope) -
200 kV 分析透過電子顕微鏡 ( 200 kV - ATEM )
(200 kV Analytical Transmission Electron Microscope ; ATEM) -
100 kV 透過電子顕微鏡 ( 100 kV - CTEM )
(100 kV Transmission Electron Microscope) -
イオンミリング装置
(Ion Milling Device) -
電解研磨装置
(Electropolisher) -
電子線マイクロプローブアナライザー (エネルギーおよび波長分散型分光分析システム装備 走査電子顕微鏡)
(EPMA: Electron Probe Micro Analyser , Scanning Electron Microscope with Both Energy- and Wavelength-Dispersive Spectroscopy System) -
各種光学顕微鏡
(Various Type of Optical Microscopes) -
蛍光顕微鏡
(Fluorescence Microscope) -
X 線回折装置
(X - Ray Diffraction Equipment) -
示差走査熱量測定(DSC)装置、 熱重量測定(TG)& 示差熱分析(DTA)装置
(Differential Scanning Calorimeter, Thermo Gravimetry & Differential Thermal Analyzer) -
電気抵抗測定装置
(Electrical Resistivity Measurement System) -
各種熱処理装置
(Various Type of Heat Treatment Systems) -
高真空石英管真空封入システム
(High Vacuum-encapsulating System) -
真空蒸着装置
(Vacuum Evaporation System) -
高周波マグネトロンスパッタリング装置
(RF - Magnetron Sputtering System) -
各種機械加工装置
(Various Type of Machining Equipment) -
引張・圧縮試験装置
(Tensile and Compression Tester) -
スクラッチ試験機
(Scratch Tester) -
マイクロビッカース硬度計
(Micro Vickers Hardness Tester) -
弾性率測定装置
(Elastic modulus Measurement Device)